Details

Test estructural i predictiu per a circuits RF CMOS

by Suenaga Portugués, Kay

Abstract (Summary)
Resum

En aquesta tesi sha desenvolupat una tècnica de test que permet testar un LNA i un mesclador, situats en el capçal RF dun receptor CMOS, en una configuració de test semblant al mode normal de funcionament. La circuiteria necessària per a implementar aquesta tècnica consta dun generador IF, per a generar el senyal IF de test, i dun mesclador auxiliar, per a obtenir el senyal RF de test. Les observables de test escollides han estat lamplitud de la tensió de sortida del mesclador i el component DC del corrent de consum. Sha estudiat leficàcia de la tècnica de test proposada utilitzant les estratègies de test estructural i predictiu, mitjançant simulacions i mesures experimentals. La seva eficàcia és comparable a altres tècniques de test existents, però làrea addicional dedicada a la circuiteria test és inferior.

This document abstract is also available in English and Spanish.
Bibliographical Information:

Advisor:Garcia Moreno, Eugeni; Picos Gayà, Rodrigo

School:Universitat de les Illes Balears

School Location:Spain

Source Type:Master's Thesis

Keywords:física

ISBN:

Date of Publication:12/17/2008

© 2009 OpenThesis.org. All Rights Reserved.